芯片可靠性测试台

芯片可靠性测试台

添加时间:2019-08-30 14:39:00


系统描述:

   AT80000为一体化测试平台,平台由工作站、支架和测试头构成。

   测试头为AT80000的主要组成部分,用以实现测试激励信号的产生、测试响应信号的捕获和电气参数的测量。在测试过程中,测试头独立完成这些测试操作,不需要工作站的介入。

   工作站用以配置DUT引脚、设置DUT引脚属性、设置信号电平/时序,并编辑/转换测试向量。在配置工作完成之后,工作站通过光纤将参数和测试向量加载到测试头中,并启动测试。测试完成之后,工作站以时序波形的方式,将测试结果显示在软件界面上,以供后续分析。

   支架用以调整测试头的高度和角度,用以方便测试工作的开展。

   测试头由4个测试箱构成,每个测试箱可最多容纳8槽数字功能模块,每个功能模块提供16个数字测试通道。AT80000可最多容纳8个测试箱,从而提供最多1024个数字通道。测试头底部为弹簧针塔,测试箱内部各个功能模块的IO信号通过专用电缆连接在弹簧针塔的弹簧针上。测试头内的测试箱为独立的测试单元,每个测试箱内均有一个主控板,用以操作测试箱内各个功能模块。

测试箱内部采用PXIe总线,用以连接各个功能

模块。测试箱内的主控板通过光纤同工作站通信,用以接收工作站下传的配置数据和测试向量,并在测试完成之后,将测试数据上传至工作站

功能测试

   测试开始前,用户通过工作站上运行的软件来编辑测试向量,并加载到AT80000中。在测试启动后,每个数字通道根据加载的测试向量来控制本通道的状态、输出波形/采集DUT输出的数字信号,并对测试结果作出判断。

   测试结束后,AT80000将测试结果上传至工作站。测试软件通过数字波形将测试结果显示测试界面上,以供分析。

电气参数测试/测量

  DUT电源

  DUT电源由可编程电源模块提供,用户可以通过调节电源模块的输出参数来设定DUT的电源,以达到测试DUT电源特性的目的。

  Voh/Vol/Vih/Vil测试

Ø  每个数字通道都集成了Voh/Vol调节电路,用户可通过软件设定这两个参数,用以实现对DUT的Vih和Vil的测试。

Ø  另外,每个数字通道的输入参数Vih和Vil也是可编程的。用户可通过调节这两个参数来实现对DUT的Voh和Vol的测试。

Ø  Ioh/Iol测试

Ø  每个数字通道内部都集成了有源负载,用户可通过配置有源负载来测试DUT的输出灌电流和拉电流。

Ø  上升/下降时间的测量

Ø  AT80000的数字化模块,用以数字化输入的信号波形。用户可通过分析数字化模块的采样数据来实现对上升/下降时间的测量。

Ø  直流参数测量

Ø  另外,每个数字通道都集成了一个参数测量单元,用户可以利用这个参数测量单元来测量DUT引脚输出信号的直流参数。

时间测量

Ø  时间测量模块可用来测量DUT输出的时钟等信号的周期、频率以及相位抖动。


上一个:电路可靠性测试台